恒溫晶振的主要工作參數(shù)是環(huán)境溫度、槽內(nèi)工作溫度和相應(yīng)的溫度控制精度，在實(shí)驗(yàn)室條件下，很容易提高溫度控制精度，一般情況下，槽內(nèi)工作溫度應(yīng)高于環(huán)境溫度的允許上限，因此，晶體的零溫度系數(shù)點(diǎn)應(yīng)根據(jù)振蕩器的工作溫度來確定和處理各種溫度變化。例如，在移動(dòng)通信的基站中，溫度范圍不低于TCXO典型的溫度控制器。確定永久溫度槽中工作溫度的具體試驗(yàn)方法是使用變阻器箱，而不是測量電橋中的固定平衡電阻的溫度。改變變阻器的電阻R可以做到這一點(diǎn)與所用晶體的零溫度系數(shù)相對應(yīng)，在附近用變阻器盒的電阻來測量晶體頻率的依賴性，可以確定曲線。在曲線上，正切角的正變化和負(fù)變化之間的轉(zhuǎn)折點(diǎn)也可以出現(xiàn)，變阻器的電阻，對應(yīng)于轉(zhuǎn)折點(diǎn)，是為平衡的穩(wěn)定性所取的值。因此，恒溫的工作溫度是物體；目前，轉(zhuǎn)折點(diǎn)溫度的測定通常采用計(jì)算機(jī)測量。

  NTP時(shí)間服務(wù)器內(nèi)OCXO的溫度控制精度取決于恒溫率的結(jié)構(gòu)和過程、溫度控制、熱傳感器的靈敏度和穩(wěn)定性等，通常采用二晶體和主振動(dòng)周期在高穩(wěn)定質(zhì)量圓筒中使用的晶體應(yīng)具有低頻溫度系數(shù)、高值和零溫度系數(shù)點(diǎn)的低老化率的特性切割晶體應(yīng)用廣泛。

  主振動(dòng)圓通常采用平行冷凝器三點(diǎn)圓，頻率可以通過可變電容器、變?nèi)荻O管來實(shí)現(xiàn)；它是電氣控制并聯(lián)的，為了考慮晶體的長期和短期穩(wěn)定性，樣品的激發(fā)水平通常在中間。

  高穩(wěn)定度晶體振蕩器的主開關(guān)電路由切割晶體組成，其目的是確保穩(wěn)定的攪動(dòng)；由于晶體的共振頻率對激發(fā)水平的變化不敏感，但是，由于切晶共振的多模特性，為了保證輸出信號的頻譜純度，常增加抑制電路。

  為了穩(wěn)定頻率GPS授時(shí)技術(shù)，需要一個(gè)自動(dòng)增益控制電路來控制線性低電平的主振動(dòng)電平，一個(gè)放大器和輸出開關(guān)來提供一定的起始電平并起到隔離的作用，一些輸出也會(huì)增加。當(dāng)負(fù)載從指定值變?yōu)殚_路時(shí)，體積濾波器將輸出頻率的變化最小化。

主要特征指標(biāo)及其測量：

   時(shí)間同步服務(wù)器內(nèi)高穩(wěn)定性的OCXO性能指標(biāo)主要包括日老化率、日頻率波動(dòng)、頻率重復(fù)性、負(fù)載特性、頻率范圍（相位變化）和時(shí)空穩(wěn)定性、頻率穩(wěn)定性、啟動(dòng)特性、功率吸收和體積等。

   近年來，OCXO在溫度特性方面并不比TCXO差，因此對其所有性能的測量也包括TCXO的測量；所有測量的計(jì)算方法在相關(guān)的國家測試規(guī)則中都有明確的規(guī)定；應(yīng)使用最小二乘法計(jì)算日老化率。

   目前，由于市場競爭，對于NTP服務(wù)器使用OCXO已經(jīng)提出了質(zhì)量、成本、產(chǎn)能等方面的要求，必須努力滿足這些要求，由于具體內(nèi)容很多，此文只是一個(gè)簡短的說明。